解決方案
存儲芯片測試方案
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行業(yè)測試挑戰(zhàn)
方案概述
存儲芯片測試方案概述
針對存儲類芯片測試，加速科技推出針對大中小不同芯片容量的測試方案：ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。ST2500E、ST2500EX應(yīng)對中小容量存儲芯片測試，可分別支持512至1024路數(shù)字通道，對于市場上EEPROM、中小容量Nor Flash及嵌入式存儲器有著良好的支持。適合的DIO通道與電源、高壓源配比，模塊化的資源，使得多site擴(kuò)展簡單易行。高容量向量深度，可滿足中小容量存儲芯片的存儲功能測試。系統(tǒng)、各模塊間高速通信帶寬，算法硬件調(diào)度，可有效提升測試效率。
Flex10K-M系列是針對FLASH/EEPROM/SRAM等存儲類芯片測試研發(fā)的大容量高密度數(shù)字測試系統(tǒng)，系統(tǒng)可以提供多達(dá)2560數(shù)字通道，768DPS通道，支持ALPG算法，可以支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片測試。
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方案介紹
核心優(yōu)勢
CORE ADVANTAGES
相關(guān)產(chǎn)品
ST2500EX
配置_1710148882.png)
支持1024數(shù)字I/O通道配置，采用Direct Docking連接方式
ST2500EX
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支持1024數(shù)字I/O通道配置，采用Direct Docking連接方式
ST2500E
配置_1708590472.png)
一個(gè)機(jī)箱最高支持16塊板卡，最高支持512數(shù)字I/O通道
ST2500E
品中心效果縮小圖_1708590475.png)
一個(gè)機(jī)箱最高支持16塊板卡，最高支持512數(shù)字I/O通道
ST2500A
配置_1708589645.png)
單機(jī)支持16個(gè)槽位，支持不同功能板卡混插
ST2500A
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單機(jī)支持16個(gè)槽位，支持不同功能板卡混插
ST2500
配置_1708591309.png)
160~1280數(shù)字通道，160~1280PPMU通道，20~160DPS
ST2500
品中心效果縮小圖_1683855445.png)
160~1280數(shù)字通道，160~1280PPMU通道，20~160DPS
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